Исследование неупругих и упругих столкновений быстрых ионов в различных средах

руководители направления: В.C. Николаев (1958-1994),  Я.А.Теплова (1994-2008)

1.  историческая справка

1.1 Создание Лаборатории Атомных Столкновений

        В 1951-52 гг. впервые в СССР по инициативе заведующего лабораторией ядерных реакций (ЛЯР) НИИЯФ МГУ профессора С.С. Васильева в 72-см циклотроне Минобразования СССР  были ускорены ионы легких элементов с ядерными зарядами Z ³2 с целью изучения ядерных реакций. На ранних этапах (до 1953 г.) в работе принимали участие научные сотрудники С.С. Васильев, Т.Н. Михалева, М.Г. Андреева и студенты Е.И. Сиротинин и Я.А. Теплова. С 1953 года циклотрон стал использоваться как источник устойчивых пучков многозарядных ионов (от Не до Аr) с различным числом электронов, что позволило осуществить комплексные исследования взаимодействия многозарядных ионов с газообразными (инертные газы, азот, водород и углеводородные молекулярные соединения) и твердыми (целлулоид и тонкие металлические пленки) веществами. Часть сотрудников ЛЯР, объединенных тематикой исследования взаимодействия многозарядных ионов с веществом, с 1953 г. составила основу сектора атомных столкновений, переименованного затем в Лабораторию Атомных Столкновений (ЛАС). Этой  группой сотрудников (И.С. Дмитриев, Я.А. Теплова,  Л.Н. Фатеева) под руководством В.С. Николаева были впервые получены данные о величине и стрэгглинге пробегов, о потере энергии, об установлении равновесного  распределения зарядов, о  среднем  заряде ионов, равновесных толщинах мишеней и сечениях как потери, так и захвата электронов. Возможности варьировать в эксперименте в широких пределах скорости  ионов   v = (1-6) v0  (v0  =2,19.108 cм/cек),  ионные заряды  от i = -1 до  i=7, ядерные заряды сталкивающихся партнеров  (Z=1-18, 36 и Zc=1-79) и агрегатное состояние среды позволили установить основные закономерности процессов взаимодействия многозарядных ионов с веществом.

     Для выполнения измерений была создана многоцелевая масс-спектрометрическая  установка, рис.1.

Рис.1. Экспериментальная установка «Сокол». 1- циклотрон, 2- камера столкновений, 3- блок счетчиков, 4- боковой патрубок, Н14- магнитные анализаторы,

Тs,0-Ts,3- «твердые» мишени, Тg,1, Tg,2- газовые мишени, Е- электростатический анализатор, d1-d3 – раздвижные диафрагмы.

 

    Технический  персонал циклотрона – А.А. Данилов, Ю.П. Дивногорцев,  Ю.А. Дружинин, Н.С. Кирпичев, М.Х. Листов, А.И. Озябкин, А.Ф. Тупикин, В.А. Хлапов – внесли большой вклад в перестройку работы циклотрона на режим ускорения ионов  и фактически являлись соавторами работ.

   В дальнейшем состав лаборатории увеличился и, соответственно, область исследования расширилась в основном за счет выпускников физического факультета МГУ. Это - Ж.М. Коновалова, Е.А. Кралькина, Б.М. Круглова, И.А. Невоструева, В.П. Зайков,  Н.П. Воробьев, В.А. Сергеев, В.А. Сидорович, Ш.Д. Куникеев. Кроме того, была создана новая группа радиационной физики полупроводников (1970-1988 гг.) под руководством Ю.В.Булгакова.

 

1.2 Обработка и обобщение экспериментальных данных

    Для пробегов и потерь энергии в газах (Теплова и др. 1958), а затем для сечений  потери и захвата электрона в серии экспериментов была обнаружена немонотонная зависимость от основных параметров столкновений для скоростей ионов (1,2-5,5) а.  и Z = 2-18, 36.  Такая зависимость отражает строение    электронных оболочек сталкивающихся частиц, поэтому требуется индивидуальное рассмотрение каждой пары партнеров столкновения, а усреднение дает лишь качественную картину. Полнота полученных данных позволяет считать, что совокупность результатов представляет новую область исследований - ионно-атомные столкновения при высокой (по атомным меркам) энергии.

      Для получения надежных оценок сечений взаимодействия ионов со средой, для которых нет прямых измерений, разрабатывались эмпирические модели, позволяющие интерполировать и экстраполировать имеющиеся  экспериментальные данные, а также оценить границы применимости существующих теоретических моделей. В работах И.С. Дмитриева и др. в 80-е годы было установлено, что в зависимости от заряда атомов среды Zc сечение потери электрона описывается единой для этих ионов ступенчатой функцией, а сечение захвата электрона пропорционально числу вакантных состояний в ближайшей к ядру электронной оболочке. Для проектирования синхротрона ОИЯИ были выполнены расчеты сечений потери и захвата электронов различными ионами с Z от 1 до 92 в азоте, аргоне и ксеноне при энергии E = 5 – 1000 МэВ/нуклон и равновесных толщин углеродных мишеней для ионов He, Ne, Ar, U с E = 2 - 10 МэВ/нуклон.

   В 80-е годы В.П. Зайковым и Е.А. Кралькиной был  разработан экспериментальный метод определения среднего равновесного заряда быстрых ионов внутри твердых мишеней и показано, что при выходе из твердой мишени из-за перезарядки ионов на поверхности происходит понижение среднего заряда.

 

1.3 Теоретическое описание неупругого рассеяния заряженных частиц на многоэлектронных атомах

                В работах Н.П. Воробьева (1981-1985 гг.) на основе метода Оппенгеймера – Бринкмана - Крамерса (ОБК) были  объяснены осцилляции величин сечений захвата электрона в зависимости от заряда ядра атома среды и  резкая зависимость изменения сечения перезарядки от среды и заряда ядра иона при переходе гелиеподобной частицы в метастабильное (1s2s)1S состояние.

                И.М. Кругловой был предложен метод определения эффективных зарядов для описания атомных электронов из комптоновских профилей. Получены формулы для обобщенных сил осцилляторов и комптоновских профилей  nl-оболочек с n£4 в борновском и импульсном приближениях.

                В борновском приближении В.А. Сидоровичем и В.С. Николаевым в 1985-1989 гг. были проведены расчеты сечений однократной и двухкратной ионизации атома гелия быстрыми многозарядными ионами с энергией от 0,1 до 4,5 МэВ/нуклон. Результаты показали, что границу применимости модели к описанию этих процессов можно снизить по скорости столкновения.

                В работах Ю.А. Шурыгиной (Белковой), Я.А. Тепловой и В.С. Сенашенко в эйкональном приближении с учетом искажения волновых функций начального и конечного состояний вычислены сечения захвата одного электрона ядрами гелия и лития. Эта модель в отличие от приближения ОБК не использовала нормировочного параметра  и давала удовлетворительное количественное согласие с экспериментальными данными.  

      На основе оператоpного подхода к pешению пpоблемы нескольких тел В.А. Сидоровичем был пpедложен  новый ваpиант теоpии pассеяния, основанный на использовании зависящего от вpемени опеpатоpа пpеобpазования волновой  функции свободной системы в волновую функцию pассеяния. В pамках пpедложенного подхода получено интегpальное уpавнение для волновой функции, котоpое с точки зpения динамики пpоцесса  pассеяния отличается от  традиционного уpавнения Липпмана-Швингеpа. Выполнены   расчеты   сечений    двухэлектронных переходов в столкновениях атома гелия с протонами, антипротонами и многозарядными ионами. Получена полуэмпирическая формула, описывающая экспериментальные сечения двухэлектронного возбуждения гелия в зависимости от  заряда налетающего иона. Опpеделено соотношение между вкладами в сечение двухэлектpонного возбуждения, вносимыми пеpеходами, пpоисходящими как  на энеpгетической повеpхности, так и вне ее. C учетом смешивания конфигураций исследован процесс ионизации гелия с одновременным возбуждением второго электрона.  Пpедсказан  эффект pезонансной связи каналов, котоpый пpиводит к pезким понижениям в энеpгетическом спектpе эжектиpуемых электpонов, пpи ионизации гелия с одновpеменным возбуждением атомного остатка.

Теоретически исследован пpоцесс возбуждения атомов водоpода в столкновениях с пpотонами, антипpотонами, ядpами гелия и многозаpядными ионами. Объяснено pазличие в сечениях pассеяния для частиц и античастиц. Дано теоpетическое обоснование того, что увеличение заpяда иона может пpиводить к понижению сечения ионизации атома в столкновениях с многозаpядными ионами.

                В работах Ш.Д. Куникеева (1989-2003) развита теория резонансной ионизации атома заряженными частицами с учетом взаимодействия в конечном и промежуточном состояниях. Получены асимптотические разложения волновой функции в случае, когда три заряженные частицы находятся в континууме, а также когда две частицы связаны, а третья находится в непрерывном спектре. Исследовано влияние взаимодействия в конечном и пpомежуточном состояниях на фоpму и интенсивность автоионизационных pезонансов атома гелия в столкновениях с пpотонами, ионами He+ и антипpотонами. Установлена зависимость ширины квазистационарного состояния от скорости и заряда рассеянной частицы.

 

1.4 Радиационная физика полупроводников

       В 70-е годы в лаборатории (секторе) атомных столкновений была образована группа (рук. Ю. В. Булгаков) для изучения вопросов, связанных с космическим материаловедением. Исследования проводились до 1988 г. и были сосредоточены на разработке методов изготовления п/п приборов и твердых схем путем воздействия на соответствующие материалы тяжелыми частицами (р, Не и др.) высокой энергии (до 1 МэВ). Экспериментально определялись радиационные повреждения кремния, а также комплексное воздействие на п/п приборы вакуума, низких температур и ионизирующего излучения. Был разработан метод определения местонахождения примесных атомов в решетке кристалла. На основе открытого группой эффекта плоскостного резонансного деканалирования были определены периоды собственных колебаний и координаты областей неустойчивого движения ионов гелия в плоскостных каналах кремния, а также средних зарядов движущихся ионов. Проведено исследование глубины проникновения ионов бора, азота и фосфора (энергия около 1 МэВ/н) в неориентированные кристаллы кремния, путем измерения толщины поврежденного слоя, а также по положению p-n переходов в образцах после отжига (зондовый метод, растровый микроскоп).    

       Методами оже - спектроскопии и рентгеноструктурного анализа было исследовано воздействие гамма – излучения на износостойкие  покрытия на основе титана. Обнаружены фазовые превращения и миграция кислорода в приповерхностных слоях при дозах облучения    103 – 104  Р.

      Аналогичные исследования проникновения ионов бора в ориентированные кристаллы кремния дали возможность создать тонкие монокристаллические мишени из кремния (1 мк). Методом внедрения ионов бора и фосфора получены диоды с большой (до 2 см2) и малой (до 1 мм2) площадями p-n переходов на глубине 10 мк.

       На заводе ЗИЛ внедрен комплекс аппаратуры для активации поверхностей деталей, включающий в себя установку для имплантации радиоактивных ионов цезия с энергией до 70 кэВ, установку для нанесения микрорельефа на поверхность активируемых деталей и систему регистрации излучающего слоя. Метод активации использован для исследования износа «пар трения» на стадии приработки, в том числе поршневой группы компрессора бытового холодильника ЗИЛ.

       Результаты исследований были использованы в технологии полупроводниковых приборов (п/п) (например, Патент США 4.056.408,1977) и др.

       Работы по резонансному деканалированию частиц были выполнены совместно с сотрудниками Берлинского университета им. Гумбольдта (К. Ленкайт и др.).

       При участии Б.В. Шемаева (с середины 70-х  по 1997 г.) было исследовано влияния различных видов ионизирующего излучения на износостойкость и срок службы режущих пластин из твердых сплавов на основе монокарбида вольфрама с кобальтовой связкой. Установлено, что воздействие гамма – квантов дозой порядка 108 Р в 3-5 раз увеличивает стойкость пластин из сплава МС111 с содержанием кобальта 9,5%. Воздействие протонами и альфа – частицами на сплавы  с относительно низким содержанием кобальта также увеличивает износостойкость, но не более чем в 2-3 раза. По результатам этой работы было получено три патента.

       В  состав группы Булгакова входили -  Т.И. Коломенская, М.А. Кумахов, Н.В. Кузнецов, Л.А. Яценко, В.А. Зарицкая, Л.М. Савельева, В.А. Муралев, Д.В. Эльтекова, В.И. Шульга, В.Н. Филатов, Ю.В. Рогачев, Е.А. Игнатова, В.П. Собакин, С.М. Разумовский и др.

2. Основные направления исследований в лаборатории:

2.1 Пробеги и потери энергии ионов

       Впервые обнаружена при скоростях ионов v= (1-3 ) v0 немонотонная зависимость пробегов ионов от их ядерного заряда Z, коррелирующая с энергией связи в электронных оболочках,  уменьшающаяся при возрастании скорости, рис.2 [4]. Аналогичная зависимость характерна и дл стрэгглинга пробегов. При этих же скоростях пробеги ионов и потери энергии пропорциональны скорости, что подтвердили теоретические модели Фирсова и Линдхарда. На кривой зависимости потерь энергии от скорости ионов  четко выделена область максимума,  v=v0Z 2/3,  которая заметно сдвигается в область больших скоростей при увеличении  Z.  Установлена зона выполнения правила аддитивности торможения в сложных молекулярных соединениях.

. 

Рис.2. Зависимость пробегов ионов от Z  в воздухе при нормальном давлении.

Значения скоростей  V даны около кривых.

Рис 3. Потери энергии легких ионов с энергией 0.35 МэВ/нуклон в зависимости от заряда ядра ионов.

Экспериментальные данные:  · - в целлулоиде,    - в азоте и в воздухе. Сплошные  кривые    расчет 

потерь  энергии,   связанных  с  перезарядкой  ионов (-dE/dx)п, пунктирные кривые – расчет потерь энергии

при взаимодействии  ионов с электронами мишени (-dE/dx)эл:  (1) – в целлулоиде, (2) – в азоте.  

 

      В последние годы были исследованы потери  энергии,  непосредственно  связанные с перезарядкой ионов,   (-dE/dx)п = Nс S Fi si,i±1 ( J+Ek),   где Fi – зарядовые фракции ионов, si,i±1 – сечения потери и захвата электрона, Nс- количество атомов в 1 см3 вещества, J- энергия связи электрона в атоме среды для процесса захвата электрона или энергия связи электрона в налетающем ионе для процесса потери электрона, Ек- кинетическая энергия  электрона, участвующего в процессе перезарядки.      

    Проведенные расчеты показали, что  для легких ионов  потери энергии, вызванные  перезарядкой, (-dE/dx)п, могут быть сравнимы по величине с потерями энергии, обусловленными взаимодействием ионов с  электронами мишени (-dE/dx)эл. При торможении ионов Ве в целлулоиде относительный   вклад (-dE/dx)п в полные потери энергии  достигает 40%(-dE/dx)эл. Для торможения ионов Не в азоте (-dE/dx)п составляют около 17%  (-dE/dx)эл, рис.3.

 

2.2 Средний заряд и распределение ионов по зарядам

    Равновесное распределение зарядов, к которому приближается зарядовый состав пучка при прохождении ионов через вещество, не зависит от начального заряда  ионов и полностью определяется соотношениями между сечениями потери и захвата электронов. Равновесное распределение достигается раньше, чем произойдет заметное торможение частиц в среде. Для среднего заряда , iсрiFi, в соответствии с критерием Бора и статистической моделью, получено удобное выражение: iср /Z = f(v /Zα ), где f -монотонно возрастающая функция, 1/3< α< 2/3. Значения   f и α подбираются на основе экспериментальных данных. Измеренный заряд в твердом веществе отличается от полученного для тех же ионов при тех же условиях  в газе, а также  из экспериментов по измерению потерь энергии.      

     С увеличением толщины мишени средний заряд изменяется монотонно, ширина зарядового распределения в случае больших отклонений начального заряда от равновесного, достигает максимального значени при толщинах меньше равновесных.

     Подтверждено, что средний заряд ионов при прохождении твердого тела всегда больше среднего заряда ионов в газах при прочих равных условиях.  Равновесное значение среднего заряда iср  не зависит от начального зарядового состояния иона i0 как в газовых, так и в твердотельных мишенях. При возрастании начальной скорости ионов iср увеличивается. Увеличение iср наблюдаетс также при возрастании заряда ядра налетающего иона ( при равных начальных скоростях и начальном заряде ).  Толщина мишени, при которой устанавливается равновесное распределение по зарядам, существенно зависит от начального заряда иона и имеет минимальное значение для i0» iср , рис.4.

     Найденные “эффективные” сечени перезарядки ионов в целлулоиде, также соответствующие сечения в азоте, позволили рассчитать на основе известных уравнений перезарядки, (dFi/dt)= SFkski-FisSik, зависимость зарядовых фракций Fi  и среднего    заряда iср от толщины мишени t при изменении начального заряда иона i0, рис.5.

 

Рис.4. Зарядовые фракции ионов азота, имеющих начальную скорость V=3,6 а. и начальный заряд io=7 в зависимости от материала и толщины перезарядной мишени

( сплошные кривые – целлулоидная пленка, пунктирные кривые –газообразный азот, значки – экспериментальные данные)

Рис.5. Зависимость среднего заряда ионов азота с V=3,6 а.  от начального зарядового состояния иона io и толщины мишени t в целлулоиде (сплошные линии) и в азоте (пунктирные линии),  значки - экспериментальные данные. io равно Î при t=0.

 

2.3 Сечения потери и захвата электронов

  Экспериментальные сечения потери и захвата  электронов получены на основе анализа   измеренных распределений ионов по зарядам. Разработан полуэмпирический метод расчета сечений потери электронов для многозарядных ионов (йод, уран), примененный при проектировке и наладке работы многоступенчатых ускорителей высоких энергий.  Измерена разница в сечениях потери электрона из К и  L-оболочек. Установлены случаи, когда для ионов с большим числом электронов вероятность потери нескольких электронов может быть больше, чем в случае потери одного электрона.   

      Сечение потери электронов уменьшается, а сечение захвата электрона увеличивается с возрастанием начального заряда иона.  При  скорости  v ³ 2v0 сечение захвата электрона быстро уменьшается с увеличением скорости и чем тяжелее среда, тем уменьшение медленнее.

      Для ионов с малыми зарядами сечение захвата электрона изменяется немонотонно в связи с периодическим изменением числа вакансий и средней энергии связи, рис.6. Понижение сечений наблюдается дл ионов с полностью заполненной электронной оболочкой и повышенной вероятностью образования метастабильных состояний. При доступных в эксперименте скоростях сечения захвата электрона сильно осциллируют  при изменении   Zt  cреды, каждый из максимумов связан с парциальным захватом электрона из К, L, M, N, O и др. оболочек. Наибольшее понижение до 3 раз наблюдается при  v =  4-6 а. Установлена связь между сечениями захвата электронов протонами и многоэлектронными ионами, следующая из приближения Оппенгеймера-Бринкмана-Крамерса.

     

   

Рис.6. Зависимость сечений захвата электрона  si,i1- от заряда ядра атомов среды - Zt для  ионов В3+. Значки - экспериментальные величины.

Сплошные линии   - нормированные расчеты в приближении ОВК, штрих-пунктирные и пунктирные прямые – полуэмпирические    

расчеты  для  скорости  ионов 1,83 и 3,65 а., соответственно.

 

     Экспериментально установлено, что при прохождении ионов через твердое вещество наряду с увеличением потери электронов наблюдается уменьшение сечени электронного захвата. Этот эффект особенно значителен для ионов с большими зарядами, которые захватывают электроны преимущественно в высоковозбужденные состояния. Уменьшение сечений захвата электронов и увеличение ионизации  ведут к увеличению среднего заряда ионов. При достижения равновесного распределения ионов по зарядам  увеличение сечений ионизации ведет к уменьшению равновесной толщины мишени, а уменьшение сечений захвата электронов –к увеличению последней. Измерения  показали, что для ионов с зарядом ядер Z=  7-10 и энергией 0,03-0,3 МэВ/н равновесные толщины твердых мишеней превышают равновесные толщины газа на порядок величины.

    Анализ отношений  Аcap=sgi+1,i/ssi+1,i     и  Аloss=sgi,i+1/ssi,i+1  сечений  захвата   и сечений потери электрона  (индексы g и s относятся к газообразной (азот) и твердой (целлулоид, углерод) среде) подтвердил увеличение сечений потери электронов и  уменьшение сечений захвата электронов в твердых телах по сравнению с   газом.

 

2.4 Угловые и энергетические распределения отраженных ионов при скользящем падении на поверхность

    Для оценки условий прохождения ионов через твердое вещество и  рассеяния от поверхности мишени проводились экспериментальные и теоретические исследования энергетических и угловых распределений  отраженных от поверхности мишени быстрых ионов гелия и азота с энергией Е0 = 200-500 кэВ и .протонов до 1,2 МэВ. Эти распределения зависят от углов скольжения a и рассеяния q ( q>a). При небольших a распределение отраженных ионов представляется в виде широкого пика (риc.7), положение максимума  Еm  которого, смещается  при увеличении  q  в область меньшей  энергии (0£ Еm/E0 <1) (рис.8).  Сравнение энергетических распределений для различных по массе и заряду ионов, отраженных от разных поверхностей металлов и углерода  позволили оценить количественные различия и глубину проникновения ионов в вещество. Расчеты, основанные на методе Монте – Карло, удовлетворительно описывают результаты измерений.

Рис. 7. Энергетическое распределение числа отраженных ионов при угле рассеяния q = 8о для столкновения ионов азота с энергией 300 КэВ с медной

поверхностью при угле скольжения a = 4о: 1 - экспериментальные данные; 2 – результаты расчета.

Рис.8.  Относительное положение максимума Em в спектре отраженных ионов, падающих на поверхность с энергией Eo=300 кэВ  под углом

скольжения a=2o. Экспериментальные данные: g - отражение протонов от медной поверхности, n - отражение протонов от графитовой

поверхности,  D - отражение ионов N+ от медной поверхности.  Результаты расчетов: 1, 2 – отражение протонов от медной и графитовой

поверхности, соответственно. 3 – отражение ионов N+ от медной поверхности.

 

2.5 Метастабильные состояния  ионов

        Впервые (публикации авторов с 1966 года) экспериментально установлено, что в ионных пучках, выведенных  из циклотрона или прошедших через газовые и твердые мишени, практически всегда содержится некоторое количество частиц в  возбужденных состояниях , часть которых оказывается долгоживущими. После идентификации состояний с помощью время-пролетного метода оказалось, что наибольшее количество метастабильных частиц принадлежит к гелиеподобным и литиеподобным изоэлектронным последовательностям. Присутствие таких ионов в пучке изменяет до 5 раз сечени потери и захвата электронов, позволяя измерять только некоторые усредненные величины.  Найдены оптимальные способы получения как наибольшего количества метастабильных частиц, так и минимального. Наибольшее количество двухэлектронных частиц  в  состояниях  1,3S  образовывалось при захвате электрона водородоподобным ионом (до 60%), наименьшее при потере электрона литиеподобным ионом. Переходы с захватом электрона метастабильным гелиеподобным ионом или с захватом двух электронов водородоподобным ионом приводят к образованию литиеподобных ионов в квартетных состояниях (1s2s2p)4Р, причем количество ионов зависит от толщины слоя газа и его состава. Зависимость количества автоионизующихся частиц от толщины слоя газа существенно отличаетс для легких газов, водорода и гелия, от аналогичной зависимости для азота, неона и аргона. Это можно объяснить тем, что в молекулах водорода и гелия отсутствуют электроны с параллельными спинами, и литиеподобные ионы могут возникнуть только при последовательном захвате по одному электрону. В более тяжелых газах одновременно действуют два процесса: последовательный захват и захват  сразу двух электронов, при этом основным механизмом является последний в связи с этим ,  наблюдается слабая зависимость количества от толщины газового слоя. В тонкой пленке количество метастабильных частиц практически постоянно. Максимальные количества метастабильных частиц получены в водороде и гелии и для ионов бора составили 0,3-0,4 (при å i ~ 1  ) , а для ионов азота – 0,15. При этом количество метастабильных литиеподобных ионов образовавшихся при захвате одного электрона не превышает 0,02-0,03, рис. 9.

Рис. 9. Количество метастабильных частиц a при захвате электронов водородоподобными ионами бора в зависимости

от толщины газовой и твердой мишени. Скорость  ионов бора 3.6 а.е. Экспериментальные данные для захвата двух электронов:

 nHe ; g- Ne;   t - Ar;   одного электрона:  nHe ; g - Ne;  t  - Ar; * - целлулоид.  Сплошные кривые - результаты 

расчета процесса захвата двух электронов с учетом  уравнений перезарядки с учетом метастабильных состояний.


 

   2.6 Компьютерное моделирование атомных столкновений в твердых телах

В 1971 году в связи с развитием работ по радиационной физике полупроводников (группа Ю.В. Булгакова) возникла необходимость в проведении компьютерного моделирования прохождения быстрых заряженных частиц (протоны, α-частицы) через кристаллические и аморфные вещества. Данных о торможении этих частиц, которые необходимы дл такого рода расчетов, тогда было недостаточно, в частности, практически не было данных о зависимости неупругих потерь энергии в элементарных соударениях от прицельного параметра столкновения, ε(р). Возникла идея определить эту зависимость с помощью эффекта каналирования (рис. 10). В условиях идеального каналирования частицы движутся на фиксированном расстоянии от атомных цепочек и плоскостей и, меняя каналы, можно «управлять» торможением.

Рис. 10.

Для протонов и α-частиц зависимости ε(р) были найдены из экспериментальных энергетических спектров атомов, прошедших через тонкие монокристаллические пленки (Ю.В. Булгаков, В.С. Николаев, В.И. Шульга). В дальнейшем эти зависимости были использованы в большом числе компьютерных расчетов, проводимых в ЛАС. Отметим расчеты ось-плоскостных переходов при каналировании быстрых α-частиц в кремнии (Ю.В. Булгаков, В.И. Шульга), в которых была предсказана возможность резонансного выхода частиц из режима плоскостного каналирования (эффект резонансного деканалирования). Эффект подтвержден экспериментально и применен для определения параметров межатомных потенциалов и средних зарядов ионов при движении в твердом теле.

В дальнейшем метод компьютерного моделирования был использован в ЛАС для решения большого круга задач физики взаимодействия атомных частиц с кристаллическими и неупорядоченными средами. Перечислим некоторые из этих задач:

          фокусировка атомарных и молекулярных ионов плотноупакованными атомными рядами кристаллической решетки;

          выход быстрых атомов отдачи при ионной бомбардировке кристаллов;

          распыление кристаллических и аморфных мишеней ионными пучками;

         ионно-фотонная эмиссия при распылении;

         нелинейные эффекты при отражении тяжелых ионов от поверхности монокристаллов;

         торможение кластеров в тонких поликристаллических пленках;

         эффекты атомной плотности и изотопные эффекты в распылении;

         «кулоновский взрыв» быстрых молекул водорода при рассеянии поверхностью.

Результаты этих работ обобщены в диссертации В.И. Шульги «Рассеяние и распыление частиц при бомбардировке твердых тел атомами, молекулами и кластерами» (2002 г.). Результаты расчетов по распылению металлов тяжелыми ионами были использованы в НПО «Криогенмаш» при при создании крупного криотермовакуумного стенда для испытания и отработки плазменных и ионных реактивных двигателей. Кроме того, полученные результаты были использованы при проектировании инжектора быстрых частиц для установки термоядерного синтеза типа «Токамак».

В последнее время резко возрос интерес к изучению распыления неупорядоченных сплавов с различным содержанием компонентов. Такие исследования важны для понимания роли поверхности в распылении, поскольку компоненты могут иметь неодинаковое распределение по глубине и сильно отличаться своей концентрацией на поверхности, особенно в присутствии поверхностной сегрегации атомов. Наибольший интерес представляет изучение пространственных распределений распыленных атомов, которые очень чувствительны к состоянию поверхности при ионном облучении.

Для решени этой задачи проведен компьютерный расчет пространственных распределений атомов при распылении сплавов NixPdy с различной концентрацией компонентов (x, y = 1, 5) ионами Ar с энергией 3–10 кэВ. В расчете использовано несколько моделей поверхностной сегрегации атомов. Согласие с экспериментом (В.С. Черныш, А.С. Патракеев) удалось достичь в рамках модели, которая предполагает наличие на поверхности разреженного слоя атомов с преобладанием одной из компонент, а именно, палладия в сплавах Ni5Pd и NiPd и никеля в сплаве NiPd5. Сегрегация палладия на поверхности Ni-Pd сплавов отмечалась многими авторами и связана с тем, что атомы Pd имеют меньшую поверхностную энергию связи и как бы выдавливаются сильно связанными атомами никеля на поверхность.

   Рис. 11. 

На рис. 11 показаны результаты компьютерного моделирования распыления сплава NiPd5, проведенного без учета и с учетом сегрегации при различной концентрации атомов первого монослоя. Видно, что учет сегрегации Ni (аномальная сегрегация) приводит к хорошему согласию результатов расчета с экспериментом. Сегрегация никеля связана с высокой концентрацией атомов палладия вблизи поверхности. С помощью эффекта сегрегации можно изменять на атомном уровне состав поверхности сплавов при ионном облучении, что может быть использовано, в частности, для управлени свойствами катализаторов.

В настоящее врем большой интерес проявляется к процессам взаимодействия с поверхностью наноатомных кластеров, которые слишком велики, чтобы считаться набором отдельных атомов, но недостаточно велики, чтобы их можно было отнести к макрочастицам типа пылинок или небольших метеоритов. Такие кластеры уже нашли ряд полезных применений в микро- и наноэлектронике.

С целью изучения особенностей взаимодействия атомных кластеров с поверхностью была разработана компьютерная программа и проведены расчеты торможения нанокластеров Ar с энергией 0,1–10 кэВ тонкими поликристаллическими пленками меди. Программа позволяет включать в рассмотрение различные типы взаимодействий, что удобно при исследовании нелинейных эффектов. Показано, что так называемый эффект «расчистки пути» (сlearing-the-way effect), наблюдавшийся ранее при исследовании торможения кластеров (P. Sigmund, В.И. Шульга), проявляется также в процессах поверхностного рассеяния и распыления.

 

В работе принимают участие: Ю.А. Белкова, И.С. Дмитриев, Н.В. Новиков, Я.А. Теплова, Ю.А. Файнберг, В.И. Шульга.