Исследование неупругих и упругих столкновений быстрых ионов в различных
средах
руководители
направления: В.C. Николаев (1958-1994), Я.А.Теплова (1994-2008)
1. историческая справка
1.1 Создание Лаборатории Атомных Столкновений
В 1951-52 гг. впервые в СССР по инициативе заведующего лабораторией ядерных
реакций (ЛЯР) НИИЯФ МГУ профессора С.С. Васильева в 72-см циклотроне Минобразования СССР
были ускорены ионы легких элементов с ядерными зарядами Z ³2 с целью изучения ядерных реакций. На ранних этапах
(до
Для выполнения измерений была создана многоцелевая масс-спектрометрическая установка, рис.1.
Рис.1.
Экспериментальная установка «Сокол». 1- циклотрон, 2- камера столкновений, 3-
блок счетчиков, 4- боковой патрубок, Н1-Н4- магнитные
анализаторы,
Тs,0-Ts,3- «твердые» мишени, Тg,1, Tg,2- газовые мишени, Е-
электростатический анализатор, d1-d3 – раздвижные диафрагмы.
Технический
персонал циклотрона – А.А. Данилов, Ю.П. Дивногорцев, Ю.А. Дружинин, Н.С. Кирпичев, М.Х. Листов,
А.И. Озябкин, А.Ф. Тупикин,
В.А. Хлапов – внесли большой вклад в перестройку работы циклотрона на режим
ускорения ионов
и фактически являлись соавторами работ.
В дальнейшем состав лаборатории увеличился
и, соответственно, область исследования расширилась в основном за счет выпускников
физического факультета МГУ. Это - Ж.М. Коновалова, Е.А. Кралькина,
Б.М. Круглова, И.А. Невоструева, В.П. Зайков, Н.П. Воробьев, В.А. Сергеев, В.А. Сидорович,
Ш.Д. Куникеев. Кроме того, была создана новая группа
радиационной физики полупроводников (1970-1988 гг.) под руководством
Ю.В.Булгакова.
1.2
Обработка и обобщение экспериментальных данных
Для пробегов и потерь энергии в газах
(Теплова и др. 1958), а затем для сечений
потери и захвата электрона в серии экспериментов была обнаружена немонотонная
зависимость от основных параметров столкновений для скоростей ионов (1,2-5,5) а.е. и Z = 2-18,
36. Такая зависимость отражает
строение электронных оболочек
сталкивающихся частиц, поэтому требуется индивидуальное рассмотрение каждой
пары партнеров столкновения, а усреднение дает лишь качественную картину.
Полнота полученных данных позволяет считать, что совокупность результатов
представляет новую область исследований - ионно-атомные столкновения при
высокой (по атомным меркам) энергии.
Для получения надежных оценок сечений
взаимодействия ионов со средой, для которых нет прямых
измерений, разрабатывались эмпирические модели, позволяющие интерполировать и
экстраполировать имеющиеся
экспериментальные данные, а также оценить
границы применимости существующих теоретических моделей. В работах И.С.
Дмитриева и др. в 80-е годы было установлено, что в зависимости от заряда
атомов среды Zc сечение потери электрона описывается единой для этих ионов ступенчатой
функцией, а сечение захвата электрона пропорционально числу вакантных состояний
в ближайшей к ядру электронной оболочке. Для проектирования синхротрона ОИЯИ
были выполнены расчеты сечений потери и захвата электронов различными ионами с Z от 1 до 92 в азоте, аргоне и ксеноне при энергии E = 5
– 1000 МэВ/нуклон и равновесных толщин углеродных мишеней для ионов He, Ne, Ar, U с E = 2
- 10 МэВ/нуклон.
В 80-е годы В.П. Зайковым
и Е.А. Кралькиной был
разработан экспериментальный метод определения среднего равновесного
заряда быстрых ионов внутри твердых мишеней и показано, что при выходе из
твердой мишени из-за перезарядки ионов на поверхности происходит понижение
среднего заряда.
1.3 Теоретическое описание неупругого рассеяния заряженных
частиц на многоэлектронных атомах
В
работах Н.П. Воробьева (1981-1985 гг.) на основе метода Оппенгеймера –
Бринкмана - Крамерса (ОБК) были
объяснены осцилляции величин сечений захвата электрона в зависимости от
заряда ядра атома среды и резкая
зависимость изменения сечения перезарядки от среды и заряда ядра иона при
переходе гелиеподобной частицы в метастабильное (1s2s)1S состояние.
И.М.
Кругловой был предложен метод определения эффективных зарядов для описания
атомных электронов из комптоновских профилей. Получены формулы для обобщенных
сил осцилляторов и комптоновских профилей
nl-оболочек с n£4 в борновском и импульсном приближениях.
В
борновском приближении В.А. Сидоровичем и В.С.
Николаевым в 1985-1989 гг. были проведены расчеты сечений однократной и
двухкратной ионизации атома гелия быстрыми многозарядными ионами с энергией от
0,1 до 4,5 МэВ/нуклон. Результаты показали, что границу применимости модели к
описанию этих процессов можно снизить по скорости столкновения.
В
работах Ю.А. Шурыгиной (Белковой), Я.А. Тепловой и В.С. Сенашенко в эйкональном приближении с учетом искажения волновых функций
начального и конечного состояний вычислены сечения захвата одного электрона
ядрами гелия и лития. Эта модель в отличие от приближения ОБК не использовала
нормировочного параметра и давала
удовлетворительное количественное согласие с экспериментальными данными.
На основе оператоpного
подхода к pешению пpоблемы нескольких тел В.А. Сидоровичем был пpедложен новый ваpиант теоpии pассеяния, основанный на
использовании зависящего от вpемени опеpатоpа пpеобpазования волновой функции свободной системы в волновую функцию
pассеяния. В pамках пpедложенного подхода получено интегpальное уpавнение для
волновой функции, котоpое с точки зpения динамики пpоцесса pассеяния отличается от традиционного уpавнения Липпмана-Швингеpа. Выполнены
расчеты сечений двухэлектронных переходов в столкновениях
атома гелия с протонами, антипротонами и многозарядными ионами. Получена
полуэмпирическая формула, описывающая экспериментальные сечения
двухэлектронного возбуждения гелия в зависимости от заряда налетающего иона. Опpеделено
соотношение между вкладами в сечение двухэлектpонного возбуждения, вносимыми
пеpеходами, пpоисходящими как на
энеpгетической повеpхности, так и вне ее. C учетом смешивания конфигураций исследован процесс
ионизации гелия с одновременным возбуждением второго электрона. Пpедсказан
эффект pезонансной связи каналов, котоpый пpиводит к pезким понижениям в
энеpгетическом спектpе эжектиpуемых электpонов, пpи ионизации гелия с
одновpеменным возбуждением атомного остатка.
Теоретически
исследован пpоцесс
возбуждения атомов водоpода в столкновениях с пpотонами, антипpотонами, ядpами
гелия и многозаpядными ионами. Объяснено pазличие в сечениях pассеяния для
частиц и античастиц. Дано теоpетическое обоснование того, что увеличение заpяда
иона может пpиводить к понижению сечения ионизации атома в столкновениях с
многозаpядными ионами.
В работах Ш.Д. Куникеева
(1989-2003) развита теория резонансной ионизации атома заряженными частицами с
учетом взаимодействия в конечном и промежуточном состояниях. Получены
асимптотические разложения волновой функции в случае, когда три заряженные
частицы находятся в континууме, а также когда две частицы связаны, а третья
находится в непрерывном спектре. Исследовано влияние взаимодействия в конечном
и пpомежуточном состояниях на фоpму и интенсивность автоионизационных
pезонансов атома гелия в столкновениях с пpотонами, ионами He+ и
антипpотонами. Установлена зависимость ширины квазистационарного состояния от
скорости и заряда рассеянной частицы.
1.4
Радиационная физика полупроводников
В 70-е годы в
лаборатории (секторе) атомных столкновений была образована группа (рук.
Ю. В. Булгаков) для изучения вопросов, связанных с космическим
материаловедением. Исследования проводились до
Методами оже -
спектроскопии и рентгеноструктурного анализа было исследовано воздействие гамма
– излучения на износостойкие покрытия на
основе титана. Обнаружены фазовые превращения и миграция кислорода в
приповерхностных слоях при дозах облучения
103 – 104
Р.
Аналогичные исследования проникновения ионов бора в ориентированные кристаллы кремния дали
возможность создать тонкие монокристаллические мишени из кремния (1 мк).
Методом внедрения ионов бора и фосфора получены диоды с большой (до 2 см2)
и малой (до 1 мм2) площадями p-n переходов на глубине 10 мк.
На
заводе ЗИЛ внедрен комплекс аппаратуры для активации поверхностей деталей,
включающий в себя установку для имплантации радиоактивных ионов цезия с
энергией до 70 кэВ, установку для нанесения микрорельефа на поверхность
активируемых деталей и систему регистрации излучающего слоя. Метод активации
использован для исследования износа «пар трения» на стадии приработки, в том
числе поршневой группы компрессора бытового холодильника ЗИЛ.
Результаты исследований были использованы в технологии полупроводниковых
приборов (п/п) (например, Патент США 4.056.408,1977) и др.
Работы
по резонансному деканалированию частиц были выполнены совместно с сотрудниками
Берлинского университета им. Гумбольдта (К. Ленкайт и др.).
При участии Б.В. Шемаева (с середины
70-х по
В состав группы Булгакова входили - Т.И. Коломенская, М.А. Кумахов, Н.В.
Кузнецов, Л.А. Яценко, В.А. Зарицкая, Л.М. Савельева, В.А. Муралев, Д.В.
Эльтекова, В.И. Шульга, В.Н. Филатов, Ю.В. Рогачев, Е.А. Игнатова, В.П.
Собакин, С.М. Разумовский и др.
2. Основные направления исследований в
лаборатории:
2.1
Пробеги и потери энергии ионов
Впервые
обнаружена при скоростях ионов v= (1-3 ) v0 немонотонная зависимость пробегов ионов от их
ядерного заряда Z, коррелирующая с энергией связи
в электронных оболочках, уменьшающаяся при
возрастании скорости, рис.2 [4]. Аналогичная зависимость характерна и дл
стрэгглинга пробегов. При этих же скоростях пробеги ионов и потери энергии
пропорциональны скорости, что подтвердили теоретические модели Фирсова и
Линдхарда. На кривой зависимости потерь энергии от скорости ионов четко выделена область максимума, v=v0Z 2/3, которая заметно сдвигается в область больших
скоростей при увеличении Z. Установлена
зона выполнения правила аддитивности торможения в сложных молекулярных
соединениях.
.
Рис.2.
Зависимость пробегов ионов от Z в воздухе при
нормальном давлении.
Значения
скоростей V даны около
кривых.
Рис
3. Потери энергии легких ионов с энергией 0.35 МэВ/нуклон в зависимости от
заряда ядра ионов.
Экспериментальные
данные: · - в целлулоиде,
■ - в азоте и в воздухе.
Сплошные кривые –
расчет
потерь энергии,
связанных с перезарядкой
ионов (-dE/dx)п, пунктирные
кривые – расчет потерь энергии
при
взаимодействии ионов
с электронами мишени (-dE/dx)эл: (1) – в целлулоиде, (2) – в
азоте.
В последние годы были исследованы потери энергии, непосредственно связанные с перезарядкой ионов, (-dE/dx)п = Nс S Fi si,i±1 ( J+Ek), где Fi – зарядовые фракции ионов, si,i±1 – сечения потери и захвата электрона, Nс- количество атомов в 1 см3 вещества, J- энергия связи электрона в атоме среды для процесса захвата электрона или энергия связи электрона в налетающем ионе для процесса потери электрона, Ек- кинетическая энергия электрона, участвующего в процессе перезарядки.
Проведенные расчеты показали, что для легких ионов потери энергии, вызванные перезарядкой, (-dE/dx)п, могут быть сравнимы по величине с потерями энергии, обусловленными взаимодействием ионов с электронами мишени (-dE/dx)эл. При торможении ионов Ве в целлулоиде относительный вклад (-dE/dx)п в полные потери энергии достигает 40%(-dE/dx)эл. Для торможения ионов Не в азоте (-dE/dx)п составляют около 17% (-dE/dx)эл, рис.3.
2.2 Средний заряд и распределение ионов по зарядам
Равновесное распределение зарядов, к которому приближается зарядовый состав пучка при прохождении ионов через вещество, не зависит от начального заряда ионов и полностью определяется соотношениями между сечениями потери и захвата электронов. Равновесное распределение достигается раньше, чем произойдет заметное торможение частиц в среде. Для среднего заряда , iср =ΣiFi, в соответствии с критерием Бора и статистической моделью, получено удобное выражение: iср /Z = f(v /Zα ), где f -монотонно возрастающая функция, 1/3< α< 2/3. Значения f и α подбираются на основе экспериментальных данных. Измеренный заряд в твердом веществе отличается от полученного для тех же ионов при тех же условиях в газе, а также из экспериментов по измерению потерь энергии.
С увеличением толщины мишени средний заряд изменяется монотонно, ширина зарядового распределения в случае больших отклонений начального заряда от равновесного, достигает максимального значени при толщинах меньше равновесных.
Подтверждено, что средний заряд ионов при прохождении твердого тела всегда больше среднего заряда ионов в газах при прочих равных условиях. Равновесное значение среднего заряда iср не зависит от начального зарядового состояния иона i0 как в газовых, так и в твердотельных мишенях. При возрастании начальной скорости ионов iср увеличивается. Увеличение iср наблюдаетс также при возрастании заряда ядра налетающего иона ( при равных начальных скоростях и начальном заряде ). Толщина мишени, при которой устанавливается равновесное распределение по зарядам, существенно зависит от начального заряда иона и имеет минимальное значение для i0» iср , рис.4.
Найденные “эффективные” сечени перезарядки ионов в целлулоиде, также соответствующие сечения в азоте, позволили рассчитать на основе известных уравнений перезарядки, (dFi/dt)= SFkski-FisSik, зависимость зарядовых фракций Fi и среднего заряда iср от толщины мишени t при изменении начального заряда иона i0, рис.5.
Рис.4. Зарядовые
фракции ионов азота, имеющих начальную скорость V=3,6 а.е. и начальный заряд io=7 в зависимости от материала и толщины перезарядной
мишени ( сплошные кривые – целлулоидная пленка, пунктирные кривые –газообразный азот, значки – экспериментальные данные) |
Рис.5. Зависимость среднего заряда ионов азота с V=3,6 а.е. от начального зарядового состояния иона io и толщины мишени t в целлулоиде (сплошные линии) и в азоте (пунктирные линии), значки - экспериментальные данные. io равно Î при t=0. |
2.3 Сечения потери и захвата электронов
Экспериментальные сечения потери и захвата электронов получены на основе анализа измеренных распределений ионов по зарядам. Разработан полуэмпирический метод расчета сечений потери электронов для многозарядных ионов (йод, уран), примененный при проектировке и наладке работы многоступенчатых ускорителей высоких энергий. Измерена разница в сечениях потери электрона из К и L-оболочек. Установлены случаи, когда для ионов с большим числом электронов вероятность потери нескольких электронов может быть больше, чем в случае потери одного электрона.
Сечение потери электронов уменьшается, а сечение захвата электрона увеличивается с возрастанием начального заряда иона. При скорости v ³ 2v0 сечение захвата электрона быстро уменьшается с увеличением скорости и чем тяжелее среда, тем уменьшение медленнее.
Для ионов с малыми зарядами сечение захвата электрона изменяется немонотонно в связи с периодическим изменением числа вакансий и средней энергии связи, рис.6. Понижение сечений наблюдается дл ионов с полностью заполненной электронной оболочкой и повышенной вероятностью образования метастабильных состояний. При доступных в эксперименте скоростях сечения захвата электрона сильно осциллируют при изменении Zt cреды, каждый из максимумов связан с парциальным захватом электрона из К, L, M, N, O и др. оболочек. Наибольшее понижение до 3 раз наблюдается при v = 4-6 а.е. Установлена связь между сечениями захвата электронов протонами и многоэлектронными ионами, следующая из приближения Оппенгеймера-Бринкмана-Крамерса.
Рис.6. Зависимость сечений захвата электрона si,i1- от заряда
ядра атомов среды - Zt для
ионов В3+. Значки - экспериментальные величины.
Сплошные линии - нормированные расчеты в приближении ОВК,
штрих-пунктирные и пунктирные прямые – полуэмпирические
расчеты для
скорости ионов 1,83 и 3,65 а.е., соответственно.
Экспериментально установлено, что при прохождении ионов через твердое вещество наряду с увеличением потери электронов наблюдается уменьшение сечени электронного захвата. Этот эффект особенно значителен для ионов с большими зарядами, которые захватывают электроны преимущественно в высоковозбужденные состояния. Уменьшение сечений захвата электронов и увеличение ионизации ведут к увеличению среднего заряда ионов. При достижения равновесного распределения ионов по зарядам увеличение сечений ионизации ведет к уменьшению равновесной толщины мишени, а уменьшение сечений захвата электронов –к увеличению последней. Измерения показали, что для ионов с зарядом ядер Z= 7-10 и энергией 0,03-0,3 МэВ/н равновесные толщины твердых мишеней превышают равновесные толщины газа на порядок величины.
Анализ отношений Аcap=sgi+1,i/ssi+1,i и Аloss=sgi,i+1/ssi,i+1 сечений захвата и сечений потери электрона (индексы g и s относятся к газообразной (азот) и твердой (целлулоид, углерод) среде) подтвердил увеличение сечений потери электронов и уменьшение сечений захвата электронов в твердых телах по сравнению с газом.
2.4 Угловые и
энергетические распределения отраженных ионов при скользящем падении на
поверхность
Для оценки условий прохождения ионов через твердое вещество и рассеяния от поверхности мишени проводились экспериментальные и теоретические исследования энергетических и угловых распределений отраженных от поверхности мишени быстрых ионов гелия и азота с энергией Е0 = 200-500 кэВ и .протонов до 1,2 МэВ. Эти распределения зависят от углов скольжения a и рассеяния q ( q>a). При небольших a распределение отраженных ионов представляется в виде широкого пика (риc.7), положение максимума Еm которого, смещается при увеличении q в область меньшей энергии (0£ Еm/E0 <1) (рис.8). Сравнение энергетических распределений для различных по массе и заряду ионов, отраженных от разных поверхностей металлов и углерода позволили оценить количественные различия и глубину проникновения ионов в вещество. Расчеты, основанные на методе Монте – Карло, удовлетворительно описывают результаты измерений.
Рис. 7. Энергетическое
распределение числа отраженных ионов при угле рассеяния q = 8о для столкновения ионов азота с энергией 300 КэВ с медной
поверхностью при угле скольжения a = 4о: 1 - экспериментальные данные; 2 – результаты расчета.
Рис.8. Относительное
положение максимума Em в спектре отраженных ионов, падающих на
поверхность с энергией Eo=300 кэВ под углом
скольжения a=2o. Экспериментальные данные: g - отражение
протонов от медной поверхности, n - отражение протонов от
графитовой
поверхности, D - отражение ионов
N+ от медной поверхности. Результаты расчетов: 1, 2 – отражение
протонов от медной и графитовой
поверхности,
соответственно. 3 – отражение ионов N+ от медной поверхности.
2.5 Метастабильные состояния ионов
Впервые (публикации авторов с 1966 года) экспериментально установлено, что в ионных пучках, выведенных из циклотрона или прошедших через газовые и твердые мишени, практически всегда содержится некоторое количество частиц в возбужденных состояниях , часть которых оказывается долгоживущими. После идентификации состояний с помощью время-пролетного метода оказалось, что наибольшее количество метастабильных частиц принадлежит к гелиеподобным и литиеподобным изоэлектронным последовательностям. Присутствие таких ионов в пучке изменяет до 5 раз сечени потери и захвата электронов, позволяя измерять только некоторые усредненные величины. Найдены оптимальные способы получения как наибольшего количества метастабильных частиц, так и минимального. Наибольшее количество двухэлектронных частиц в состояниях 1,3S образовывалось при захвате электрона водородоподобным ионом (до 60%), наименьшее при потере электрона литиеподобным ионом. Переходы с захватом электрона метастабильным гелиеподобным ионом или с захватом двух электронов водородоподобным ионом приводят к образованию литиеподобных ионов в квартетных состояниях (1s2s2p)4Р, причем количество ионов зависит от толщины слоя газа и его состава. Зависимость количества автоионизующихся частиц от толщины слоя газа существенно отличаетс для легких газов, водорода и гелия, от аналогичной зависимости для азота, неона и аргона. Это можно объяснить тем, что в молекулах водорода и гелия отсутствуют электроны с параллельными спинами, и литиеподобные ионы могут возникнуть только при последовательном захвате по одному электрону. В более тяжелых газах одновременно действуют два процесса: последовательный захват и захват сразу двух электронов, при этом основным механизмом является последний в связи с этим , наблюдается слабая зависимость количества от толщины газового слоя. В тонкой пленке количество метастабильных частиц практически постоянно. Максимальные количества метастабильных частиц получены в водороде и гелии и для ионов бора составили 0,3-0,4 (при å i ~ 1 ) , а для ионов азота – 0,15. При этом количество метастабильных литиеподобных ионов образовавшихся при захвате одного электрона не превышает 0,02-0,03, рис. 9.
Рис.
9. Количество метастабильных частиц a при
захвате электронов водородоподобными ионами бора в зависимости
от толщины газовой и твердой мишени. Скорость ионов бора 3.6 а.е. Экспериментальные данные для захвата двух электронов:
n – He ; g- Ne; t - Ar; одного электрона: n – He ; g - Ne; t - Ar; * - целлулоид.
Сплошные кривые - результаты
расчета
процесса захвата двух электронов с учетом
уравнений перезарядки с учетом метастабильных состояний.
2.6 Компьютерное моделирование
атомных столкновений в твердых телах
В 1971 году в
связи с развитием работ по радиационной физике полупроводников (группа Ю.В.
Булгакова) возникла необходимость в проведении компьютерного моделирования
прохождения быстрых заряженных частиц (протоны, α-частицы)
через кристаллические и аморфные вещества. Данных о торможении этих частиц,
которые необходимы дл такого рода расчетов, тогда было недостаточно, в
частности, практически не было данных о зависимости неупругих потерь энергии в
элементарных соударениях от прицельного параметра столкновения, ε(р).
Возникла идея определить эту зависимость с помощью эффекта каналирования (рис.
10). В условиях идеального каналирования частицы
движутся на фиксированном расстоянии от атомных цепочек и плоскостей и, меняя
каналы, можно «управлять» торможением.
Рис. 10.
Для протонов
и α-частиц зависимости ε(р)
были найдены из экспериментальных энергетических спектров атомов, прошедших
через тонкие монокристаллические пленки (Ю.В. Булгаков, В.С. Николаев, В.И.
Шульга). В дальнейшем эти зависимости были использованы в большом числе
компьютерных расчетов, проводимых в ЛАС. Отметим расчеты ось-плоскостных
переходов при каналировании быстрых α-частиц в кремнии (Ю.В. Булгаков,
В.И. Шульга), в которых была предсказана возможность резонансного выхода частиц
из режима плоскостного каналирования (эффект резонансного деканалирования).
Эффект подтвержден экспериментально и применен для определения параметров
межатомных потенциалов и средних зарядов ионов при движении в твердом теле.
В дальнейшем
метод компьютерного моделирования был использован в ЛАС для решения большого
круга задач физики взаимодействия атомных частиц с кристаллическими и
неупорядоченными средами. Перечислим некоторые из этих задач:
–
фокусировка атомарных и молекулярных ионов плотноупакованными атомными
рядами кристаллической решетки;
–
выход быстрых атомов отдачи при ионной бомбардировке кристаллов;
–
распыление кристаллических и аморфных мишеней ионными пучками;
–
ионно-фотонная эмиссия при распылении;
–
нелинейные эффекты при отражении тяжелых ионов от поверхности
монокристаллов;
–
торможение кластеров в тонких поликристаллических пленках;
–
эффекты атомной плотности и изотопные эффекты в распылении;
–
«кулоновский взрыв» быстрых молекул водорода при рассеянии
поверхностью.
Результаты
этих работ обобщены в диссертации В.И. Шульги «Рассеяние и распыление частиц
при бомбардировке твердых тел атомами, молекулами и кластерами» (
В последнее
время резко возрос интерес к изучению распыления неупорядоченных сплавов с
различным содержанием компонентов. Такие исследования важны для понимания роли
поверхности в распылении, поскольку компоненты могут иметь неодинаковое
распределение по глубине и сильно отличаться своей концентрацией на
поверхности, особенно в присутствии поверхностной сегрегации атомов. Наибольший
интерес представляет изучение пространственных распределений распыленных
атомов, которые очень чувствительны к состоянию поверхности при ионном
облучении.
Для решени
этой задачи проведен компьютерный расчет пространственных распределений атомов
при распылении сплавов NixPdy с различной концентрацией
компонентов (x, y = 1, 5) ионами Ar с
энергией 3–10 кэВ. В расчете использовано несколько моделей поверхностной
сегрегации атомов. Согласие с экспериментом (В.С. Черныш, А.С. Патракеев) удалось
достичь в рамках модели, которая предполагает наличие на поверхности
разреженного слоя атомов с преобладанием одной из компонент, а именно, палладия
в сплавах Ni5Pd и NiPd и никеля в сплаве NiPd5. Сегрегация палладия на
поверхности Ni-Pd сплавов отмечалась многими
авторами и связана с тем, что атомы Pd имеют меньшую поверхностную
энергию связи и как бы выдавливаются сильно связанными атомами никеля на
поверхность.
Рис. 11.
На рис. 11
показаны результаты компьютерного моделирования распыления сплава NiPd5, проведенного без учета и с
учетом сегрегации при различной концентрации атомов первого монослоя. Видно,
что учет сегрегации Ni (аномальная сегрегация) приводит к хорошему согласию
результатов расчета с экспериментом. Сегрегация никеля связана с высокой
концентрацией атомов палладия вблизи поверхности. С помощью эффекта сегрегации
можно изменять на атомном уровне состав поверхности сплавов при ионном
облучении, что может быть использовано, в частности, для управлени свойствами
катализаторов.
В настоящее
врем большой интерес проявляется к процессам взаимодействия с поверхностью
наноатомных кластеров, которые слишком велики, чтобы считаться набором
отдельных атомов, но недостаточно велики, чтобы их можно было отнести к
макрочастицам типа пылинок или небольших метеоритов. Такие кластеры уже нашли
ряд полезных применений в микро- и наноэлектронике.
С целью
изучения особенностей взаимодействия атомных кластеров с поверхностью была
разработана компьютерная программа и проведены расчеты торможения нанокластеров
Ar с энергией 0,1–10 кэВ
тонкими поликристаллическими пленками меди. Программа позволяет включать в
рассмотрение различные типы взаимодействий, что удобно при исследовании
нелинейных эффектов. Показано, что так называемый эффект «расчистки пути» (сlearing-the-way effect),
наблюдавшийся ранее при исследовании торможения кластеров (P. Sigmund,
В.И. Шульга), проявляется также в процессах поверхностного рассеяния и
распыления.
В работе принимают участие: Ю.А. Белкова,
И.С. Дмитриев, Н.В. Новиков, Я.А. Теплова, Ю.А. Файнберг,
В.И. Шульга.